儀器名稱：

X射線光電子能譜分析儀（XPS）

型號(hào)：

Thermo Scientific Escalab 250Xi

檢測(cè)項(xiàng)目：

全譜、精細(xì)譜、價(jià)帶譜、XPS深度蝕刻、微區(qū)成像、分峰分析

常溫，變溫

應(yīng)用范圍：

1.定性：元素種類及價(jià)態(tài)信息 X-射線光電子能譜(XPS)可以定性檢測(cè)元素周期表中除H和He以外的幾乎所有元素;

2.定量：半定量，屬于表面靈敏型測(cè)試，探測(cè)深度小于10納米;

3.成像：元素XPS二維成像，200-800微米范圍。

制樣要求：

1.粉末測(cè)試需要量一般不小于0.2ml或者10mg，樣品需干燥;

2.固體樣品尺寸塊狀5*5mm，厚度盡量低于4mm，表面須平整，樣品需干燥;

3.液體樣須滴在鋁箔或者硅片等載體上烘干形成液膜，一般重復(fù)3-5次烘干滴液差不多即可測(cè)不到基底;

4.材料必須是無(wú)放射性、無(wú)毒性、無(wú)揮發(fā)性物質(zhì)(如單質(zhì)Na, K, S, P, Zn, Se, As, I, Te, Hg等);

5.磁性樣品(可以測(cè)試)請(qǐng)送樣時(shí)告知;

6.元素窄譜如果有特殊要求請(qǐng)備注，如果沒(méi)有特殊說(shuō)明，默認(rèn)測(cè)試最強(qiáng)峰，如果最強(qiáng)峰和其他元素的峰有重疊，默認(rèn)測(cè)試次強(qiáng)峰。需要掃特殊峰請(qǐng)備注。

7.小于1%的元素可能測(cè)不出明顯信號(hào)；

8.普通樣品測(cè)試一般包括一個(gè)全譜和含碳的五個(gè)以內(nèi)單元素精細(xì)譜；超過(guò)五個(gè)元素的按每個(gè)元素加收費(fèi)用；樣品不提供數(shù)據(jù)分析處理，如需要分析處理加收費(fèi)用；

9.其他問(wèn)題和特殊測(cè)試要求可在線溝通。