檢測認證人脈交流通訊錄
間歇壽命IoL試驗【長禾CNAS實驗室】
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對應法規(guī)：實驗室
CNAS認可項目：是 -
執(zhí)行標準：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、
GB/T 29332-2012、GJB128B-2021
試驗對象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件；
檢測能力：檢測 大電壓：2000V 檢測 大電流：200A；
試驗參數：
漏電參數：IR、ICBO、ICEO、IDSS、IDOFF、IDRM、 IRRM、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、 IGSSR；
擊穿參數：BVCEO、BVCES、BVDSS、BVCBO、VDRM、 VRRM、BVR、BVZ、BVEBO、BVGSS；
導通參數：VCESAT、VBESAT、VBEON、VF、VGSTH、VGETH、VTM；
關斷參數：VGSOFF
觸發(fā)參數：IGT、VGT
保持參數：IH、IH+、IH-
鎖定參數：IL、IL+、IL-
混合參數：RDSON、GFS
I-V曲線掃描
ID vs.VDS at range of VGS
ID vs.VGS at fixed VDS
IS vs.VSD
RDS vs.VGS at fixed ID
RDS vs.ID at several VGS
IDSS vs.VDS
HFE vs.IC
BVCE（O,S,R,V） vs.IC
BVEBO vs.IE
BVCBO vs.IC
VCE（SAT） vs.IC
VBE（SAT） vs.IC
VBE（ON） vs.IC （use VBE test）
VCE（SAT） vs.IB at a range of ICVF vs. IF
執(zhí)行標準：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、
GB/T 29332-2012；
試驗對象：DIODE、IGBT、MOSFET、SCR、整流橋等功率；
試驗能力：檢測 大電壓：7000V，檢測 大電流：5000A
試驗參數：
漏電參數：IR、ICBO、ICEO、IDSS、IDOFF、IDRM、 IRRM、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、 IGSSR；
擊穿參數：BVCEO、BVCES、BVDSS、BVCBO、VDRM、 VRRM、BVR、BVZ、BVEBO、BVGSS；
導通參數：VCESAT、VBESAT、VBEON、VF、VGSTH、VGETH、VTM；
關斷參數：VGSOFF
觸發(fā)參數：IGT、VGT
保持參數：IH、IH+、IH-
鎖定參數：IL、IL+、IL-
混合參數：RDSON、GFS
開關特性測試（Switch）
執(zhí)行標準：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、
GB/T 29332-2012；
試驗對象：MOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及模塊；
試驗能力：檢測 大電壓：4500V 檢測 大電流：5000A
試驗參數：開通/關斷時間ton/toff、上升/下降時間tr/tf、開通/關斷延遲時間td(on)/td(off)、開通/關斷損耗Eon/Eoff、電流尖峰Ic-peak max、電壓尖峰Vce-peak max、電壓變化率dv/dt、電流變化率di/dt；
反向恢復測試（Qrr）
執(zhí)行標準：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、
GB/T 29332-2012；
試驗對象：DIODE、MOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及模塊；
試驗能力：檢測 大電壓：4500V 檢測 大電流：5000A
試驗參數：反向恢復電荷Qrr、反向恢復電流Irm、反向恢復時間Trr、反向恢復電流變化率diF/dt、反向恢復損耗Erec；
柵極電荷（Qg）
執(zhí)行標準：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、
GB/T 29332-2012；
試驗對象：MOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及模塊；；
試驗能力：檢測 大電壓：4500V 檢測 大電流：5000A
試驗參數：柵極電荷Qg、漏極電荷Qgs、源極電荷Qgd；
短路耐量（SCSOA）
執(zhí)行標準：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、
GB/T 29332-2012；
試驗對象：DIODE、MOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及IGBT模塊器件；
試驗能力：檢測 大電壓：4500V 檢測 大電流：10000A
試驗參數：短路電流Isc、短路時間Tsc、短路能量Esc；
結電容（Cg）
執(zhí)行標準：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、
GB/T 29332-2012；
試驗對象：MOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及模塊；
試驗能力：頻率：0.1-1MHz、檢測 大電壓：1500V；
試驗參數：輸入電容Ciss、輸出電容Coss、反向傳輸電容Cres；
C-V曲線掃描
輸入電容Ciss-V；
輸出電容Coss-V；
反向傳輸電容Cres-V；
柵極電阻（Rg）
執(zhí)行標準：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、
GB/T 29332-2012；
試驗對象：DIODE、MOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及IGBT模塊器件；
試驗能力：檢測 大電壓：1500V；
試驗參數：柵極等效電阻Rg
執(zhí)行標準：MIL-STD-750，IEC60747，客戶自定義；
試驗對象：DIODE（Si/SiC）、整流橋、SCR、IGBT；
試驗能力：檢測 大電流：10000A，10ms/8.3ms正弦半波，100us/1ms/10ms方波。
試驗參數：浪涌電流IFSM/ITSM、i2t
雷擊浪涌 8/20us,10/1000us
雪崩耐量測試（UIS）
執(zhí)行標準：MIL-STD-750，IEC60747，客戶自定義；
試驗對象：MOSFET、IGBT、DIODE，第三代半導體器件等單管器件；
試驗能力：檢測 大電壓：4500V，檢測 大電流：200A
試驗參數：雪崩能量EAS
介電性測試
執(zhí)行標準：GB/T 42125.10-2022、IEC 60243、GB 4793.1-2007；
試驗對象：Si、SiC·MOSFET；
試驗能力：檢測 大電壓：4500V，檢測 大電流：200A
高溫反偏試驗（HTRB）
執(zhí)行標準：GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、EIAJED-4701100、AEC-Q101, 。
試驗對象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件及IGBT模塊；
試驗能力：溫度 高150℃；電壓 高5000V；
高溫柵偏試驗（HTGB）
執(zhí)行標準：GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、
EIAJ ED-4701100 、AEC-Q101、 。
試驗對象：MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件及IGBT模塊；
試驗能力：溫度 高150℃；電壓 高100V；
高溫高濕反偏試驗（H3TRB）
執(zhí)行標準：GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、
EIAJ ED-4701100 、AEC-Q101、 。
試驗對象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件及IGBT模塊；
試驗能力：溫度85℃，濕度范圍：25%~95%，電壓 高4500V；
功率老煉測試
試驗對象：IGBT、TVS、壓敏電阻VDR；
試驗能力：檢測 大電壓：4500V，檢測 大電流：200A
間歇壽命試驗（IOL）
執(zhí)行標準：GJB128、MIL-STD-750、 ；
試驗對象：DIODE、BJT、MOSFET、IGBT及SiC器件等分立器件；
檢測能力：ΔTj≧100℃ 電壓 大60V，電流 大50A。
功率循環(huán)試驗（PC）
執(zhí)行標準：GJB128、MIL-STD-750、 ；
試驗對象：IGBT模塊；
檢測能力：ΔTj=100℃，電壓 大30V，電流 大1800A；
熱阻測試（Riath）
執(zhí)行標準：JESD51-1、JESD51-14、JESD24-3、JESD24-4、JESD24-6；
試驗對象：各類二極管；
試驗能力：瞬態(tài)熱阻、穩(wěn)態(tài)熱阻
失效分析 X-ray
◆ 人機工程學設計
◆ 編程CNC檢測及選配旋轉工裝
◆ 可實時追蹤、目標點定位
◆ 高分辨率FPD獲高質量圖像
◆ 配置超大載物臺及桌面檢測區(qū)域
◆ X射線源：
大輸出功率：8W
光管類型：封閉式
管電壓：90kV
焦點尺寸：5μm
環(huán)境老煉
高溫存儲試驗（HTSL）
執(zhí)行標準：MIL-STD-750，GB/T 2423.2-2008、GJB548、 ；
試驗對象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件、IGBT模塊及其他電子產品；
試驗能力：溫度 高220℃；
低溫存儲試驗（LTSL）
執(zhí)行標準：GJB548、GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、EIAJ ED-4701100 、AEC-Q101、 ；
試驗對象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件、IGBT模塊及其他電子產品；
試驗能力：溫度 低-70℃。
高低溫循環(huán)試驗（TC）
執(zhí)行標準：GJB548、GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、EIAJ ED-4701100 、AEC-Q101、 ；
試驗對象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件、IGBT模塊及其他電子產品；
試驗能力：溫度范圍：-40℃~175℃。
溫度沖擊試驗
執(zhí)行標準：GJB548、GJB 150-86、GB 2423、MIL-STD-810H、IEC60068-2-14；
試驗對象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件、IGBT模塊及其他電子產品；
試驗能力：溫度范圍：-70℃~220℃。
高溫蒸煮試驗（PCT）
執(zhí)行標準：GB/T 4937.4-2012、JESD22-A110D-2010
IPC/JEDECJ-STD-020D.1-2008；
試驗對象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件、IGBT模塊及其他電子產品；
試驗能力：溫度范圍：105℃到142.9℃之間；濕度范圍： 75%到100%RH。
壓力范圍：0.02MPa到0.186MPa。
可焊性試驗
執(zhí)行標準：MIL-STD-202G、MIL-STD-883G、GB2423、IEC60068；
試驗對象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件、IGBT模塊及其他電子產品；
振動試驗
執(zhí)行標準：GJB 150.25-86、GB-T 4857.23-2003、GBT4857.10-2005；
試驗對象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件、IGBT模塊及其他電子產品；
試驗方法：模擬產品在運輸、安裝及使用環(huán)境下所遭遇到的各種振動環(huán)境影響，主要用于評定元器件、零部件及整機在預期的運輸及使用環(huán)境中的抵抗能力，以了解產品的耐振壽命和性能指標的穩(wěn)定性。
鹽霧試驗
執(zhí)行標準：GB/T2423.17—2008、GB/T2423.18—2000、GB5938—86；
試驗對象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件、IGBT模塊及其他電子產品；
試驗方法：通過人工模擬鹽霧環(huán)境條件來考核產品或金屬材料耐腐蝕性能的環(huán)境試驗。一般用于對材料(表面鍍層)或表面處理工藝進行評價、篩選、對比，確定產品中潛在問題的區(qū)域和部位,發(fā)現質量控制的不足,尋找設計缺陷等。
