上海珩渥檢測技術服務有限公司

檢測通>> 上海珩渥檢測技術服務有限公司

首頁

地址：浙江省杭州市莫干山路187號易盛大廈12F 郵政編碼：310012

客服QQ:2804879579 檢測通QQ群:檢測資源-詢盤、人脈 319379593

檢測通手機版
檢測通官方微信
檢測通QQ群


DESCRIPTION	TESTTYPE	PRICE_UNIT	PRECISION	GRADE	RANGE	CERTIFICATION
光學分度臺	V	臺	分度值≤0.5 分度值> 0.5	/	0°? 360°	JJF1114-2004 光學、數(shù)顯分度臺校準規(guī)范
光學分度頭	V	臺	分度值≤0.1分度值>0.1? 5分度值>5	/	0°? 360°	JJG57-1999光學、數(shù)顯分度頭檢定規(guī)程
光學計	C	臺	1μm	/	(0?250)mm	JJG45-1999光學計檢定規(guī)程
光學計	V	臺	1μm	/	(0?250)mm	JJG45-1999光學計檢定規(guī)程
光學經(jīng)緯儀	C	臺	DJ07、DJ1	T3	(0~360)°	JJG414-2011光學經(jīng)緯儀檢定規(guī)程光學經(jīng)緯儀 GB/T 3161-2003
光學經(jīng)緯儀	C	臺	DJ2	DJ2、TDJ2、T2、	(0~360)°	JJG414-2011光學經(jīng)緯儀檢定規(guī)程光學經(jīng)緯儀 GB/T 3161-2003
光學經(jīng)緯儀	C	臺	DJ6、DJ30	TDJ6、DJ6、TE6、T6	(0~360)°	JJG414-2011光學經(jīng)緯儀檢定規(guī)程光學經(jīng)緯儀 GB/T 3161-2003
光學經(jīng)緯儀	V	臺	DJ07、DJ1	T3	(0~360)°	JJG414-2011光學經(jīng)緯儀檢定規(guī)程光學經(jīng)緯儀 GB/T 3161-2003
光學經(jīng)緯儀	V	臺	DJ2	DJ2、TDJ2、T2	(0~360)°	JJG414-2011光學經(jīng)緯儀檢定規(guī)程光學經(jīng)緯儀 GB/T 3161-2003
光學經(jīng)緯儀	V	臺	DJ6、DJ30	TDJ6、DJ6、TE6、T6	(0~360)°	JJG414-2011光學經(jīng)緯儀檢定規(guī)程光學經(jīng)緯儀 GB/T 3161-2003
光學傾斜儀	C	臺	分度值≤0.2	/	0°? 360°	JJF1083-2002光學傾斜儀校準規(guī)范
焊接檢驗尺	V	支	±0.20mm	/	(0?45)mm
合像水平儀	C	臺	±0.02mm/m	/	0.01mm/m
合像水平儀	V	臺	±0.02mm/m	/	0.01mm/m
螺紋環(huán)規(guī)	V	只	二等	/	Φ(3?50)mm
螺紋環(huán)規(guī)	V	只	/	/	≤Φ50mm
螺紋環(huán)規(guī)	V	只	/	/	>Φ(50?150)mm
機械分度頭	C	臺	/	/	0°? 360°	GB/T 2554-2008 機械分度頭
機械式比較儀	V	臺	±(0.8?2)μm	/	±50μm
激光平面干涉儀	C	臺	0.02μm	/	(0?150)mm	GJB/J 6221-2008 數(shù)字式激光平面干涉儀校準規(guī)范
建筑工程質量檢測器組	C	套	/	/	/
角度規(guī)	C	支	±(2′?5′)	/	0°?320°
角度規(guī)	V	支	±(2′?5′)	/	0°?360°
角度塊	C	角	0級，1級，2級	單塊	0°? 360°	JJG70-2004角度塊檢定規(guī)程
角度塊	Q	角	0級,1級	/	0°? 360°	JJG70-2004角度塊檢定規(guī)程
角度塊	Q	角	2級	/	0°? 360°	JJG70-2004角度塊檢定規(guī)程
角度塊	V	角	0級，1級，2級	單塊	0°? 360°	JJG70-2004角度塊檢定規(guī)程
數(shù)顯分度臺	V	臺	分度值≤0.5	/	0°? 360°	JJF1114-2004 光學、數(shù)顯分度臺校準規(guī)范
數(shù)顯分度臺	V	臺	分度值> 0.5	/	0°? 360°	JJF1114-2004 光學、數(shù)顯分度臺校準規(guī)范
數(shù)顯分度頭	V	臺	分度值≤0.1 分度值>5	/	0°? 360°	JJG57-1999光學、數(shù)顯分度頭檢定規(guī)程
數(shù)顯千分表	C	只	/	/	(0?10)mm
數(shù)顯式指示表檢定儀	V	臺	±2μm	/	(0?25)mm
水平尺	C	支	(2?100)μm	/	(0?400)mm
水平尺	C	支	(2?100)μm	/	(400?1000)mm
研磨面平尺	C	支	0.4μm	/	≤300mm	JJG740-2005研磨面平尺檢定規(guī)程
研磨面平尺	C	支	0.6μm	/	>(300?500)mm	JJG740-2005研磨面平尺檢定規(guī)程
研磨面平尺	Q	支	≤ 0.4μm	/	≤ 300mm	JJG740-2005研磨面平尺檢定規(guī)程
研磨面平尺	V	支	0.4μm	/	≤300mm	JJG740-2005研磨面平尺檢定規(guī)程
研磨面平尺	V	支	0.6μm	/	>(300?500)mm	JJG740-2005研磨面平尺檢定規(guī)程
英制量塊	C	塊	/	/	(0.5?100)mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
游標卡尺	C	支	/	/	≤150mm
數(shù)顯游標卡尺	C	支	/	/	≤150mm
游標卡尺	C	支	/	/	>(150?300)mm
數(shù)顯游標卡尺	C	支	/	/	>(150?300)mm
游標卡尺	C	支	/	/	>(300?500)mm
數(shù)顯游標卡尺	C	支	/	/	>(300?500)mm
游標卡尺	C	支	/	/	>(500?1000)mm
數(shù)顯游標卡尺	C	支	/	/	>(500?1000)mm
游標卡尺	V	支	/	/	≤150mm
數(shù)顯游標卡尺	V	支	/	/	≤150mm
游標卡尺	V	支	/	/	>(150?300)mm
數(shù)顯游標卡尺	V	支	/	/	>(150?300)mm
游標卡尺	V	支	/	/	>(300?500)mm
數(shù)顯游標卡尺	V	支	/	/	>(300?500)mm
游標卡尺	V	支	/	/	>(500?1000)mm
數(shù)顯游標卡尺	V	支	/	/	>(500?1000)mm
游標卡尺	V	支	/	/	>(1000?2000)mm
數(shù)顯游標卡尺	V	支	/	/	>(1000?2000)mm
游標塞尺	C	件	/	/	/
圓度測量儀	C	臺	±2%	/	(0?1000)mm	JJG429-2000圓度圓柱度測量儀檢定規(guī)程
圓柱度測量儀	C	臺	±2%	/	(0?1000)mm	JJG429-2000圓度圓柱度測量儀檢定規(guī)程
圓度測量儀	C	臺	±5%	/	(0?1000)mm	JJG429-2000圓度圓柱度測量儀檢定規(guī)程
量塊	V	套	二等	38塊組	（1?100）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	三等	38塊組	（1?100）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	四等	38塊組	（1?100）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	38塊組	（1?100）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	二等	42塊組	（1?100）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	三等	42塊組	（1?100）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	四等	42塊組	（1?100）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	42塊組	（1?100）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	二等	46塊組	（1?100）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	三等	46塊組	（1?100）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	四等	46塊組	（1?100）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	46塊組	（1?100）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	二等	47塊組	（1?100）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	三等	47塊組	（1?100）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	四等	47塊組	（1?100）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	47塊組	（1?100）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	二等	32塊組	（1?60）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	三等	32塊組	（1?60）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	四等	32塊組	（1?60）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	32塊組	（1?60）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	二等	10塊組	（1?1.009）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	三等	10塊組	（1?1.009）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	四等	10塊組	（1?1.009）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	10塊組	（1?1.009）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	二等	10塊組	（0.991?1）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	三等	10塊組	（0.991?1）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	四等	10塊組	（0.991?1）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	10塊組	（0.991?1）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	二等	10塊組	（2.5?25）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	三等	10塊組	（2.5?25）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	四等	10塊組	（2.5?25）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	10塊組	（2.5?25）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	112塊組	（0.5?100）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	三等	8塊組	（125?500）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	四等	8塊組	（125?500）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	8塊組	（125?500）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	三等	10塊組	（50?500）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	四等	10塊組	（50?500）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	10塊組	（50?500）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	三等	5塊組	（600?1000）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	四等	5塊組	（600?1000）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	5塊組	（600?1000）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	三等	10塊組	（100?1000）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	四等	10塊組	（100?1000）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	10塊組	（100?1000）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	三等	11塊組	（50?1000）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	四等	11塊組	（50?1000）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	11塊組	（50?1000）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	三等	12塊組	（50?1000）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	四等	12塊組	（50?1000）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	12塊組	（50?1000）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	三等	12塊組	（30?1000）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	四等	12塊組	（30?1000）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	12塊組	（30?1000）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	四等	12塊組	（10?291.8）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	12塊組	（10?291.8）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	6塊組	（10?121.8）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	7塊組	（10?121.8）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	7塊組	（10?121.9）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
標準金屬線紋尺	V	支	二等	/	(0?1000)mm	JJG73-2005高等別線紋尺檢定規(guī)程
標準金屬線紋尺	V	支	三等	/	(0?1000)mm
平面平晶	C	塊	二等	/	D:150mm	JJG28-2000平晶檢定規(guī)程
平面平晶	V	塊	二等	/	D:150mm	JJG28-2000平晶檢定規(guī)程
標準篩網(wǎng)	T	只	/	/	參照GB/T726-1997	未定
表面粗糙度比較樣塊	C	塊	29%	/	Ra:(0.01?80)μm	JJF1099-2003表面粗糙度比較樣塊校準規(guī)范
表式測厚儀	C	只	/	/	(0?10)mm	JJG34-2008指示表（指示表和千分表）檢定規(guī)程JJG379-2009大量程百分表檢定規(guī)程
測長機	C	臺	±(0.5+L/100)μm	/	(0?1000)mm	JJF1066-2000 測長機校準規(guī)范
測長機	C	臺	±(0.5+L/100)μm	/	(0?3000)mm	JJF1066-2000 測長機校準規(guī)范
測長儀	C	臺	±(1+L/200)μm	/	(0?200)mm	JJF1189-2008 測長儀校準規(guī)范
大量程百分表	V	只	0級,1級	/	(10?20)mm
大量程百分表	V	只	0級,1級	/	(20?40)mm
大量程百分表	V	只	0級,1級	/	>40mm
大型工具顯微鏡	C	臺	±(1+L/100)μm	/	(0?100)mm	JJG56-2000工具顯微鏡檢定規(guī)程
大型工具顯微鏡	V	臺	±(1+L/100)μm	/	(0?100)mm	JJG56-2000工具顯微鏡檢定規(guī)程
帶表卡尺	C	支	±(0.04?0.10)mm	/	(0?300)mm
帶表卡尺	V	支	±(0.04?0.10)mm	/	(0?300)mm
帶表千分尺	C	支	±3μm	/	(0?100)mm
帶表千分尺	V	支	±3μm	/	(0?100)mm
帶錘鋼卷尺	Q	支/5m	I級	/	0 ? 200m
帶錘鋼卷尺	Q	支/5m	II級	/	0 ? 200m
刀口型直角尺	C	支	/	/	<300mm
刀口型直角尺	C	支	/	/	>300mm
刀口形直尺	C	支	±(0.5?3.0)μm	/	≤175mm
二等標準鉑電阻溫度計	V	支	二等	/	(-189.3442?0.01)℃
二等標準電離真空計	C	臺	±10%	/	(10-1?10-4)Pa
二等標準電離真空計	V	臺	±10%	/	(10-1?10-4)Pa
二等標準活塞式壓力計	C	臺	±0.05%	/	(0.04?0.6)MPa
二等標準活塞式壓力計	C	臺	±0.05%	/	(0.1?6)MPa
二等標準活塞式壓力計	C	臺	±0.05%	/	(1?60)MPa
二等標準活塞式壓力計	C	臺	±0.05%	/	(5?250)MPa
二等標準活塞式壓力計	V	臺	±0.05%	/	(0.04?0.6)MPa
二等標準活塞式壓力計	V	臺	±0.05%	/	(0.1?6)MPa
二等標準活塞式壓力計	V	臺	±0.05%	/	(1?60)MPa
二等標準活塞式壓力計	V	臺	±0.05%	/	(5?250)MPa
二等標準水銀溫度計	C	支	二等	/	(-60?0)℃
二等標準水銀溫度計	C	套	二等	1套7支	(-30?300)℃
二等標準水銀溫度計	C	支	二等	/	(-30?20)℃
二等標準水銀溫度計	C	支	二等	/	(0?50)℃
二等標準水銀溫度計	C	支	二等	/	(50?300)℃
二等標準水銀溫度計	V	支	二等	/	(-30?20)℃
二等標準水銀溫度計	V	支	二等	/	(0?50)℃
二等標準水銀溫度計	V	支	二等	/	(50?300)℃
二等標準水銀溫度計	V	套	二等	1套7支	(-30?300)℃
二等單活塞式壓力真空計	C	臺	±0.05%	/	(-0.1?0.25)MPa
二等單活塞式壓力真空計	V	臺	±0.05%	/	(-0.1?0.25)MPa
二等雙活塞式壓力真空計	C	臺	±0.05%	/	(-0.1?0.25)MPa
二等雙活塞式壓力真空計	V	臺	±0.05%	/	(-0.1?0.25)MPa
二等體溫計	C	支	0.02℃	/	(35?45)℃
二等體溫計	V	支	0.02℃	/	(35?45)℃
二級標準濕度發(fā)生器	Q	臺	±2%RH	/	(10 ? 95)%RH
分流式濕度發(fā)生器	V	臺	±2%RH二級	/	(10?95)%RH
浮球壓力計(空氣天平)	C	臺	0.025級以下	/	2MPa以下
浮球壓力計(空氣天平)	C	臺	0.025級以下	/	2MPa及以上
浮球壓力計(空氣天平)	C	臺	0.01級及以下	/	2MPa以下
浮球壓力計(空氣天平)	C	臺	0.01級及以下	/	2MPa及以上
輻射感溫器	C	臺	/	/	400?2000℃
復合真空計(電離+熱傳導)	C	臺	±50%	/	(10-5?102)Pa
干濕球測濕計	C	臺	±5%RH,±(1?3)℃	/	(10?95)%RH，(0?150)℃
干燥機,管道,空間及設備露點參數(shù)測試	C	臺	±(2?5)%RH,±(0.2?1)℃	/	(10?95)%RH，(5?50)℃
高低溫交變濕熱箱	T	臺	/	/	(-75?200)℃，(10?100)%RH
高低溫試驗箱	T	臺	/	/	(-75?200)℃
高低溫室	T	臺	±0.3℃	/	(-75?200)℃
高精度實驗室溫度計	Q	點	0.1,0.2分度	/	(-60 ? 600)℃
高精密玻璃水銀溫度計	C	支	(0.005?0.15)℃	/	(0?150)℃
高精密玻璃水銀溫度計	V	支	(0.005?0.15)℃	/	(0?150)℃
高精密溫度計	C	支	±0.10℃及以下	/	(0?150)℃
高精密溫度計	V	支	±0.10℃及以下	/	(0?150)℃
高溫試驗箱	T	臺	/	/	室溫?200℃
高溫室	T	臺	±0.3℃	/	室溫?200℃
工業(yè)鉑,銅熱電阻	C	支	A級（四線制）	/	(-200?420)℃
工業(yè)鉑,銅熱電阻	C	支	A級（三線制）	/	(-200?420)℃
工業(yè)鉑,銅熱電阻	C	支	B級（四線制）	/	(-200?420)℃
工業(yè)鉑,銅熱電阻	C	支	B級（三線制）	/	(-200?420)℃
工業(yè)鉑,銅熱電阻	V	支	A級（三線制）	/	(-200?420)℃
工業(yè)鉑,銅熱電阻	V	支	A級（四線制）	/	(-200?420)℃
工業(yè)鉑,銅熱電阻	V	支	B級（三線制）	/	(-200?420)℃
工業(yè)鉑,銅熱電阻	V	支	B級（四線制）	/	(-200?420)℃
工業(yè)退火爐	T	臺	/	/	(300?1500)℃
工作鉑銠10-鉑熱電偶	Q	支	Ⅰ級	/	0 ? 1600℃
工作鉑銠10-鉑熱電偶	Q	支	Ⅱ級	/	0 ? 1600℃
工作用玻璃液體溫度計	C	支	最小分度值0.1℃	/	(-60?300)℃
工作用玻璃液體溫度計	C	支	±0.2℃	/	(-80?300)℃
工作用玻璃液體溫度計	V	支	最小分度值0.1℃	/	(-60?300)℃
工作用玻璃液體溫度計	V	支	±0.2℃	/	(-80?300)℃
工作用玻璃液體溫度計	V	支	最小分度值1℃以下	/	(-60?300)℃
工作用鉑銠30-鉑銠6熱電偶	C	支	Ⅱ級	/	(1100?1500)℃
工作用鉑銠30-鉑銠6熱電偶	C	支	Ⅲ級	/	(1100?1500)℃
工作用鉑銠30-鉑銠6熱電偶	V	支	Ⅱ級	/	(1100?1500)℃
工作用鉑銠30-鉑銠6熱電偶	V	支	Ⅲ級	/	(1100?1500)℃
工作用輻射溫度計(紅外測溫儀)	C	臺	0.5級及以下	/	(50?550)℃
工作用輻射溫度計(紅外測溫儀)	C	臺	0.5級及以下	/	(550?1500)℃
工作用輻射溫度計(紅外測溫儀)	C	臺	0.5級及以下	/	(800?2000)℃
工作用輻射溫度計(紅外測溫儀)	V	臺	0.5級及以下	/	(50?550)℃
工作用輻射溫度計(紅外測溫儀)	V	臺	0.5級及以下	/	(550?1500)℃
工作用廉金屬熱電偶	C	支	I級,II級	/	(-80?300)℃
工作用廉金屬熱電偶	C	支	I級	/	(300?1100)℃
工作用液體壓力計	C	臺	1級及以下	/	(-0.1?0.25)MPa
工作用液體壓力計	C	臺	1級及以下	/	(-10?250)kPa
工作用液體壓力計	V	臺	1級及以下	/	(-0.1?0.25)MPa
工作用液體壓力計	V	臺	1級及以下	/	(-10?250)kPa
管式電阻爐	T	臺	/	/	(300?1500)℃
貴金屬熱電偶校驗爐	T	臺	/	/	(300?1500)℃
量塊	V	套	五等	8塊組	（10?121.9）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	7塊組	（10?149.9）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	8塊組	（10?149.9）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	6塊組	（10?191.8）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	8塊組	（10?199.8）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	6塊組	（41.2?291.4）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	6塊組	（41.2?291.8）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量塊	V	套	五等	6塊組	（51.2?291.8）mm	JJG146-2011量塊檢定規(guī)程
量油尺	C	支	2級	/	(0?5)m
量油尺	V	支	2級	/	(0?5)m
螺紋環(huán)規(guī)	C	只	/	/	≤M50mm
螺紋環(huán)規(guī)	C	只	/	/	>M(50?150)mm
螺紋環(huán)規(guī)	V	只	/	/	≤M50mm
螺紋塞規(guī)	C	支	/	/	≤M50mm
螺紋塞規(guī)	C	頭	/	/	>M(50?150)mm
螺紋塞規(guī)	V	頭	/	/	≤M50mm
螺紋塞規(guī)	V	頭	/	/	>M(50?150)mm
莫氏錐棒(光學檢具)	T	根	/	/	/	未定
內測千分尺	C	支	±0.008mm	/	(5?100)mm
內測千分尺	V	支	±0.008mm	/	(5?100)mm
內徑百分表	C	只	/	/	(0?450)mm
內徑千分表	C	只	/	/	(0?100)mm
內徑千分表	C	只	/	/	(100?200)mm
內徑千分表	C	只	/	/	(200?300)mm
內徑千分表	C	只	/	/	(300?400)mm
內徑千分尺	C	支	/	/	(0?250)mm
內徑千分尺	C	支	/	/	(250?600)mm
內徑千分尺	C	支	/	/	(600?1200)mm
內徑千分尺	C	支	/	/	(1200?3000)mm
內徑千分尺	V	支	/	/	(0?250)mm
內徑千分尺	V	支	/	/	(250?600)mm
內徑千分尺	V	支	/	/	(600?1200)mm
內徑千分尺	V	支	/	/	(1200?3000)mm
檢測尺	C	件	/	/	/
內外直角檢測尺	C	件	±0.2mm	/	/
扭簧式比較儀	V	臺	±(0.15?3)μm	/	±100μm
偏擺儀	C	臺	/	/	(300?500)mm	JJF 1109-2003 跳動檢查儀校準規(guī)范
平板	C	塊	(2.5?272)μm	/	≤300mm
平板	C	塊	(2.5?272)μm	/	(300?500)mm
平板	C	塊	(2.5?272)μm	/	(500?800)mm
平板	C	塊	(2.5?272)μm	/	(800?1000)mm
平板	C	塊	(2.5?272)μm	/	(1000?1500)mm
平板	C	塊	(2.5?272)μm	/	(1500?2000)mm
平板	V	塊	(2.5?272)μm	/	≤300mm
平板	V	塊	(2.5?272)μm	/	(300?500)mm
平板	V	塊	(2.5?272)μm	/	(500?800)mm
平板	V	塊	(2.5?272)μm	/	(800?1000)mm
平板	V	塊	(2.5?272)μm	/	(1000?1500)mm
平板	V	塊	(2.5?272)μm	/	(1500?2000)mm
平尺	C	支	(2?100)μm	/	(0?1000)mm
平尺	C	支	(2?100)μm	/	(1000?3000)mm
平尺	V	支	(2?100)μm	/	(0?1000)mm
平尺	V	支	(2?100)μm	/	(1000?3000)mm
平面等厚干涉儀	C	臺	/	/	Φ150mm	JJF 1100-2003 平面等厚干涉儀校準規(guī)范
平面等厚干涉儀	Q	臺	0.02μm	/	0 ? 200mm	JJF 1100-2003 平面等厚干涉儀校準規(guī)范
平面平晶	C	塊	一級,二級	/	D≤60mm，D>100mm?150mm	JJG28-2000平晶檢定規(guī)程
平面平晶	Q	塊	二等	/	D:150mm	JJG28-2000平晶檢定規(guī)程
平面平晶	Q	塊	一級,二級	/	100mm＜D≤150mm	JJG28-2000平晶檢定規(guī)程
平面平晶	Q	塊	一級,二級	/	60mm＜D≤100mm	JJG28-2000平晶檢定規(guī)程
平面平晶	Q	塊	一級,二級	/	≤60mm	JJG28-2000平晶檢定規(guī)程
平面平晶	V	塊	一級,二級	/	D≤60mm，D>60mm?100mm	JJG28-2000平晶檢定規(guī)程
平行平晶	C	套	平面度:0.1μm
平行平晶	V	塊	平面度:0.1μm
平行平晶	V	套	平面度:0.1μm
坡度尺	C	件	/	/	/
漆膜厚度儀	C	臺	/	/	/	未定
千分表	C	只	0級,1級	/	(0?2)mm
數(shù)顯千分表	C	只	0級,1級	/	(0?2)mm
千分表	C	只	0級,1級	/	(0?3)mm
數(shù)顯千分表	C	只	0級,1級	/	(0?3)mm
千分表	C	只	0級,1級	/	(0?5)mm
數(shù)顯千分表	C	只	0級,1級	/	(0?5)mm
千分表	V	只	0級,1級	/	(0?2)mm
數(shù)顯千分表	V	只	0級,1級	/	(0?2)mm
千分表	V	只	0級,1級	/	(0?3)mm
數(shù)顯千分表	V	只	0級,1級	/	(0?3)mm
千分表	V	只	0級,1級	/	(0?5)mm
數(shù)顯千分表	V	只	0級,1級	/	(0?5)mm
千分表檢定儀	C	臺	±2μm	/	(0?2)mm
千分表檢定儀	C	臺	±2μm	/	(0?5)mm
千分表檢定儀	Q	臺	±2μm	/	0 ? 2mm
千分表檢定儀	Q	臺	/	/	0 ? 5mm
千分表檢定儀	V	臺	±2μm	/	(0?2)mm
千分表檢定儀	V	臺	±2μm	/	(0?5)mm
千分尺	C	支	/	/	(100?200)mm
千分尺	C	支	/	/	(200?300)mm
千分尺	C	支	/	/	(300?500)mm
千分尺	C	支	/	/	(500?1000)mm
千分尺	C	支	/	/	(1000?1500)mm
千分尺	C	支	/	/	(1500?2000)mm
千分尺	C	支	/	/	(2000?3000)mm
千分尺	V	支	/	/	(100?200)mm
千分尺	V	支	/	/	(200?300)mm
千分尺	V	支	/	/	(300?500)mm
千分尺	V	支	/	/	(500?1000)mm
千分尺	V	支	/	/	(1000?1500)mm
千分尺	V	支	/	/	(1500?2000)mm
千分尺	V	支	/	/	(2000?3000)mm
千分尺(含壁厚)	C	支	/	/	≤100mm
千分尺(含壁厚)	V	支	/	/	≤100mm
塞尺	C	套	±(3?16)μm	/	(0.02?1.0)mm
塞尺	V	套	±(3?16)μm	/	(0.02?1.0)mm
三針	C	副	(-1.0?+0.5)μm	/	(Φ0.118?Φ10)mm
三針	V	副	(-1.0?+0.5)μm	/	(Φ0.118?Φ10)mm
三爪千分尺	C	支	/	/	(6?50)mm
三爪千分尺	C	支	/	/	(50?100)mm
三坐標測量機(手動)	C	臺	/	/	≤500mm	JJF1064-2010坐標測量機校準規(guī)范
三坐標測量機(手動)	C	臺	/	/	>500mm	JJF1064-2010坐標測量機校準規(guī)范
三坐標測量機(自動)	C	臺	/	/	≤500mm	JJF1064-2010坐標測量機校準規(guī)范
三坐標測量機(自動)	C	臺	/	/	500mm?1000mm	JJF1064-2010坐標測量機校準規(guī)范
三坐標測量機(自動)	C	臺	/	/	1000mm?2000mm	JJF1064-2010坐標測量機校準規(guī)范
掃平儀	C	臺	/	/	/	JJF1064-2010坐標測量機校準規(guī)范
深度百分表	C	只	±12μm	/	(0?100)mm
深度百分表	V	只	±12μm	/	(0?100)mm
深度千分尺	C	支	±0.005mm	/	(0?150)mm
深度千分尺	V	支	±0.005mm	/	(0?150)mm
深度游標卡尺	C	支	±(0.04?0.10)mm	/	(0?300)mm
深度游標卡尺	C	支	±(0.05?0.10)mm	/	(0?500)mm
深度游標卡尺	V	支	±(0.04?0.10)mm	/	(0?300)mm
深度游標卡尺	V	支	±(0.05?0.10)mm	/	(0?500)mm
生物顯微鏡	T	臺	/	/	(0?100)mm	JJG (教委) 012-1996 金相顯微鏡檢定規(guī)程
十字芯棒(光學檢具)	T	根	/	/	十字刻線的以軸線0°180°間橫向偏差	未定
試模	T	孔	/	/	測長,寬,高
手持式激光測距儀	C	臺	/	/	(0?100)m	JJG966-2010手持式激光測距儀
數(shù)顯測高儀	C	臺	±(3+L/300)μm	/	(0?500)mm	JJF1254-2010數(shù)顯測高儀校準規(guī)范
數(shù)顯測高儀	C	臺	±(3+L/300)μm	/	(0?1000)mm	JJF1254-2010數(shù)顯測高儀校準規(guī)范
數(shù)顯電感式比較儀	C	臺	±(0.03+0.005A)μm	/	±1999μm
測角儀	Q	臺	1″? 2″	/	0°? 360°	JJG97-2001測角儀檢定規(guī)程
測角儀	Q	臺	> 2″? 5″	/	0°? 360°	JJG97-2001測角儀檢定規(guī)程
測角儀	V	臺	1級,2級	/	0°? 360°	JJG97-2001測角儀檢定規(guī)程
測角儀	V	臺	5級~10級	/	0°? 360°	JJG97-2001測角儀檢定規(guī)程
測量顯微鏡	C	臺	±(5+L/15)μm	/	(0?50)mm	JJG571-2004讀數(shù)、測量顯微鏡檢定規(guī)程
測量顯微鏡	V	臺	±(5+L/15)μm	/	(0?50)mm	JJG571-2004讀數(shù)、測量顯微鏡檢定規(guī)程
測微平行光管	C	臺	/	/	/	JJF1064-2010坐標測量機校準規(guī)范
長平晶	C	塊	0.01μm, 0.03μm	/	210mm,310mm	JJG28-2000平晶檢定規(guī)程
長平晶	V	塊	0.01μm, 0.03μm	/	210mm,310mm	JJG28-2000平晶檢定規(guī)程
超聲波測厚儀	C	臺	±(0.1+H/100)mm	/	(0?200)mm	JJF1126-2004超聲波測厚儀校準規(guī)范
齒厚游標卡尺	V	支	±0.02mm	/	m1?m50
觸針式表面粗糙度儀	C	臺	±5%	/	/	JJF1105-2003觸針式表面粗糙度測量儀校準規(guī)范
觸針式表面粗糙度儀	C	臺	±7%	/	Ra:(0.01?80)μm	JJF1105-2004觸針式表面粗糙度測量儀校準規(guī)范
觸針式表面粗糙度儀	C	臺	±10%	/	Ra:(0.01?80)μm	JJF1105-2005觸針式表面粗糙度測量儀校準規(guī)范
觸針式表面粗糙度儀	C	臺	±15%	/	Ra:(0.01?80)μm	JJF1105-2006觸針式表面粗糙度測量儀校準規(guī)范
垂直度檢測尺	C	件	±0.15mm	/	/
磁阻法測厚儀	C	臺	±(0.5?0.01H)μm

中文精品人妻vs无码人妻,东京热aⅤ无码一区二区,亚洲国产精品成人a,一级看片免费视频,国产69av亚洲一级黄

上海珩渥檢測技術服務有限公司

熱門推薦

設備校準,檢定服務

推薦服務