“高精度晶振綜合測(cè)試儀GDS-80”參數(shù)說(shuō)明

“高精度晶振綜合測(cè)試儀GDS-80”詳細(xì)介紹

基本介紹

高精度晶振綜合測(cè)試儀GDS-80是高性價(jià)比的晶振測(cè)試系統(tǒng)，采用微處理器技術(shù)，實(shí)現(xiàn)智能化測(cè)量，符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)。高精度晶振綜合測(cè)試儀GDS-80測(cè)量頻率范圍20KHz-100MHz，附RS-232接口進(jìn)行數(shù)據(jù)通信。高精度晶振綜合測(cè)試儀GDS-80特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)生產(chǎn)和科研使用。

高精度晶振綜合測(cè)試儀GDS-80采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實(shí)現(xiàn)等精度測(cè)量。高精度晶振綜合測(cè)試儀GDS-80測(cè)量精度高，速度快；具有串聯(lián)諧振頻率、負(fù)載諧振頻率、串聯(lián)諧振電阻、負(fù)載諧振電阻、PPM值、靜電容等參數(shù)測(cè)量，可保存5個(gè)不同晶振頻率和負(fù)載電容參數(shù)，負(fù)載電容在2-20P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置，從滿足不同負(fù)載電容的晶振測(cè)試，智能運(yùn)算克服了市場(chǎng)上晶體阻抗計(jì)阻抗數(shù)值顯示不明顯的缺點(diǎn)、解除了手工校對(duì)的麻煩，讓晶振測(cè)試變得更輕松。

性能特點(diǎn)

1.      阻抗值、ppm同時(shí)顯示
2.      無(wú)需人工校對(duì)，直接測(cè)試多種參數(shù)
3.      新技術(shù)，符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)，滿足國(guó)人需求，可替代進(jìn)口設(shè)備
4.      LCD顯示PPm超標(biāo)提示功能

技術(shù)參數(shù)

3.1 測(cè)量范圍： 3.1.1 頻率測(cè)量范圍：0.1 Hz ~ 100 MHz

3.1.2 周期測(cè)量范圍：10 ns ~ 10 s 3.1.3 計(jì)數(shù)容量：1 10 8 3.1.4 ppm：1ppm 3.2 動(dòng)態(tài)范圍：50 mV ～ 1.5 Vms 3.3 輸入耦合方式：AC 3.4 閘門時(shí)間：0.01s 、0.1s 、1s（可設(shè)定） 3.5 準(zhǔn)確度： 時(shí)基準(zhǔn)確度 觸發(fā)誤差 被測(cè)頻率（周期） LSO 其中LSO = （100 ns / 閘門時(shí)間） 被測(cè)頻率 （被測(cè)周期） 3.6 時(shí)基： 3.6.1 標(biāo)稱頻率：10 MHz 3.6.2 頻率穩(wěn)定度：5 10 7/d 3.7 顯示： 九位LED數(shù)碼管顯示 3.8 電源： 220 V 22 V 50 H z 2.5 Hz 3.9 整機(jī)功耗： 10 VA 3.10 可靠性：平均無(wú)故障工作時(shí)間MTBF 10000 h

采購(gòu)須知

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