GDS-80晶振綜合測試儀

一、 概述

高精度晶振阻抗測試儀GDS-80以單片機為核心，進行功能切換，測量控制，數(shù)據(jù)處理。高精度晶振阻抗測試儀GDS-80采用倒數(shù)測量計數(shù)技術(shù)，實現(xiàn)了全范圍內(nèi)的等精度測量。日穩(wěn)5 10-7 / 日的恒溫晶體振蕩器，保證了測量數(shù)據(jù)的可靠性。 

高精度晶振阻抗測試儀GDS-80具有頻率、周期、累計、ppm等測量功能，并根據(jù)用戶的需要，可增添合適的功能。

二、使用的環(huán)境條件

工作環(huán)境溫度：0 40℃相對溫度：  90

三、技術(shù)參數(shù)

3.1 測量范圍：

3.1.1 頻率測量范圍：0.1 Hz ~ 100 MHz

3.1.2 周期測量范圍：10 ns ~ 10 s

3.1.3 計數(shù)容量：1 10 8

3.1.4 ppm：1ppm

3.2 動態(tài)范圍：50 mV ～ 1.5 Vms

3.3 輸入耦合方式：AC

3.4 閘門時間：0.01s 、0.1s 、1s（可設(shè)定）

3.5 準確度： 時基準確度 觸發(fā)誤差 被測頻率（周期） LSO 其中LSO = （100 ns / 閘門時間） 被測頻率 （被測周期）

3.6 時基：

3.6.1 標稱頻率：10 MHz 3.6.2 頻率穩(wěn)定度：5 10 7/d

3.7 顯示： 九位LED數(shù)碼管顯示

3.8 電源： 220 V 22 V 50 H z 2.5 Hz

3.9 整機功耗： 10 VA 3.10 可靠性：平均無故障工作時間MTBF 10000 h