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MiniTest740涂層測(cè)厚儀

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創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理）技術(shù)提升了測(cè)量的精確性測(cè)量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用 FN探頭自動(dòng)識(shí)別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò) SIDSP技術(shù)-全球最新技術(shù)，智能數(shù)字化的涂層測(cè)厚探頭模擬信號(hào)處理時(shí)代已成過(guò)去，數(shù)字信號(hào)處理將成為未來(lái)的趨勢(shì) 什么是SIDSP？ SIDSP是由ElektrPhysik（簡(jiǎn)稱EPK）研發(fā)的，世界領(lǐng)先的涂層測(cè)厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。 SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理，這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測(cè)量時(shí)，同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號(hào)完全處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭完全依據(jù)世界頂尖技術(shù)生產(chǎn)。 SIDSP工作原理？跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào)，回傳的信號(hào)經(jīng)過(guò)32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理，帶給您精確的涂層厚度值。此項(xiàng)尖端的數(shù)字處理技術(shù)，同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)（手機(jī)網(wǎng)絡(luò)）方面，如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均值，隨機(jī)分析，等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號(hào)處理無(wú)可比擬的信號(hào)質(zhì)量和精確度。厚度值通過(guò)探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。 SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優(yōu)勢(shì)，為涂層測(cè)厚設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。為什么選擇SIDSP？ SIDSP探頭具有極高的抗干擾性任何與測(cè)量相關(guān)的信號(hào)，都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進(jìn)行處理。測(cè)量信號(hào)不會(huì)通過(guò)探頭電纜傳輸時(shí)受到干擾，因?yàn)椴辉儆袦y(cè)量信號(hào)的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電，并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測(cè)量工件需要特別長(zhǎng)的電纜線也沒(méi)問(wèn)題，加長(zhǎng)的電纜線同樣具有極強(qiáng)的抗干擾能力。 SIDSP-測(cè)量信號(hào)高穩(wěn)定性 EPK的SIDSP探頭具有極高的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測(cè)量點(diǎn)測(cè)量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果，再次證明了SIDSP探頭的優(yōu)秀性能。高精確度的SIDSP探頭特征曲線在生產(chǎn)過(guò)程中，EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的校準(zhǔn)。一般的模擬探頭只會(huì)在特征曲線上選幾個(gè)點(diǎn)來(lái)校準(zhǔn)，但SIDSP探頭不同：由于是全自動(dòng)化過(guò)程，探頭在50個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行校準(zhǔn)，大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個(gè)量程范圍內(nèi)都十分精準(zhǔn)，將測(cè)量錯(cuò)誤降至最低。 SIDSP探頭對(duì)溫度變化不敏感在生產(chǎn)過(guò)程中，對(duì)每個(gè)SIDSP探頭都進(jìn)行了溫度補(bǔ)償?shù)木幋a，這對(duì)于模擬探頭是根本不可能實(shí)現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會(huì)影響測(cè)量，與溫度相關(guān)的錯(cuò)誤不會(huì)在SIDSP探頭上發(fā)生！ SIDSP探頭適應(yīng)性強(qiáng) 需要快速測(cè)量幾個(gè)點(diǎn)嗎？只要開(kāi)啟快速測(cè)量模式，探頭自動(dòng)轉(zhuǎn)換到特定設(shè)置。想進(jìn)行高精度測(cè)量嗎？沒(méi)問(wèn)題，只要選擇高精度模式，儀器同樣能自動(dòng)轉(zhuǎn)換。不論您要求測(cè)量單個(gè)數(shù)值還是連續(xù)測(cè)量，SIDSP都能完成您的選擇！ SIDSP N和FN型探頭基體導(dǎo)電性補(bǔ)償由于使用了EPK特殊的自動(dòng)補(bǔ)償方法，SIDSP電渦流探頭可以適應(yīng)多種導(dǎo)電性不同的非鐵基體材料，如銅，鈦，等等，無(wú)需特別在基體上校準(zhǔn)儀器。 SIDSP-未來(lái)解決方案 EPK將繼續(xù)改進(jìn)SIDSP技術(shù)以滿足客戶的需求。您可以從EPK的網(wǎng)站進(jìn)行免費(fèi)的軟件升級(jí)，使您的SIDSP探頭總是最新版本。 MINITEST 700系列及SIDSP 新的MINITEST 700產(chǎn)品線，加強(qiáng)了EPK在全球涂層測(cè)厚市場(chǎng)的領(lǐng)導(dǎo)地位. 有了新的SIDSP F型探頭（測(cè)量鐵基體）和N型探頭（測(cè)量非鐵基體），您可享受到高精確度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢(shì)和便利。新的MINITEST 700可以解決您所有涂層厚度問(wèn)題，而產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)的外觀是您長(zhǎng)期價(jià)值和成功的關(guān)鍵，比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑，或電鍍等行業(yè)。增加了測(cè)量速度設(shè)置選項(xiàng) MINITEST 700可以讓您輕松變換測(cè)量需求。在對(duì)精度要求不高的條件下，您可以短時(shí)間測(cè)量大量數(shù)值；也可以只測(cè)量少數(shù)幾個(gè)數(shù)值，但要求精度很高，您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測(cè)量值超過(guò)您所設(shè)定的極限值時(shí)，儀器會(huì)報(bào)警，保證您即使在快速模式下也不會(huì)錯(cuò)過(guò)任何信息。儀器具備聲、光報(bào)警，在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示，超過(guò)極限值則用紅色LED燈提示。使用簡(jiǎn)單方便 MINITEST 700按照人體工學(xué)設(shè)計(jì)，外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的靈活性，MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭，方便測(cè)量難以到達(dá)的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測(cè)量需求：如果您想單手測(cè)量，可以選擇內(nèi)置探頭的720。730則是外置探頭的。所有型號(hào)都配有一個(gè)超大、背光的顯示屏，顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn)，方便您讀取數(shù)據(jù)。預(yù)設(shè)選項(xiàng)節(jié)省您的時(shí)間和金錢所有MINITEST 700探頭都可以對(duì)不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無(wú)涂層基體上校零時(shí)，整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。為節(jié)省您的時(shí)間和金錢，儀器預(yù)設(shè)了大量校準(zhǔn)方法，適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)和3點(diǎn)校準(zhǔn)。另外，還有針對(duì)不同粗糙程度的粗糙度校準(zhǔn)。FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體類型避免操作者犯錯(cuò)。為適應(yīng)全球銷售需要，MINITEST 700滿足各種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：SSPC-PA2，ISO，瑞典（SS184160），澳大利亞（AS 3894.3），ISO 19840和ASTM D7091（以前的D1186和D1400）。 MINITEST 700優(yōu)點(diǎn)一覽： SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加精確可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置） FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤生產(chǎn)過(guò)程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高精確度的特征曲線大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù) 讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn) 菜單指引操作，25種語(yǔ)言可選帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC 可下載更新軟件標(biāo)準(zhǔn)配置：推薦配件: 帶塑料手提箱，內(nèi)含： -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測(cè)量支架 MINITEST 720(內(nèi)置探頭) 或MINITEST 730（外置探頭）或MINITEST740主機(jī)（不含探頭，有各種探頭可選）校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板操作使用說(shuō)明CD，德語(yǔ)、英語(yǔ)、法語(yǔ)、西班牙語(yǔ) 2節(jié)AA電池主機(jī) 型號(hào) 特性 MINITEST 720 MINITEST 730 MINITEST 740 探頭類型內(nèi)置外置內(nèi)置外置可換數(shù)據(jù)記憶組數(shù) 10 10 100 存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量最多10,000個(gè) 最多10,000個(gè) 最多100,000個(gè) 統(tǒng)計(jì)值讀值個(gè)數(shù)，最小值，最大值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置）校準(zhǔn)程序符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 ISO，SSPC，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) 校準(zhǔn)模式出廠設(shè)置校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)，3點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值極限值監(jiān)控聲、光報(bào)警提示超過(guò)極限測(cè)量單位 um，mm，cm；mils，inch，thou 操作溫度 -10℃-60℃ 存放溫度 -20℃-70℃ 數(shù)據(jù)接口 IrDA 1.0（紅外接口）電源 2節(jié)AA電池標(biāo)準(zhǔn) DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2 體積 157mm x 75.5mm x 49mm 重量約175g 約210g 約175g（內(nèi)置）/230g（外置）技術(shù)數(shù)據(jù)表 SIDSP探頭探頭特性 F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5 F2 F5，N2.5，F(xiàn)N5 F15 F N F F N F 測(cè)量范圍 0-1.5mm 0-0.7mm 0-2mm 0-5mm 0-2.5mm 0-15mm 使用范圍小工件，薄涂層，跟測(cè)量支架一起使用粗糙表面標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛厚涂層測(cè)量原理磁感應(yīng) 電渦流磁感應(yīng) 磁感應(yīng) 電渦流磁感應(yīng) 信號(hào)處理探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理（SIDSP）精確度 ±（1μm+0.75%讀值） ±（1.5μm+0.75%讀值） ±（5μm+0.75%讀值）重復(fù)性 ±（0.5μm+0.5%讀值） ±（0.8μm+0.5%讀值） ±（2.5μm+0.5%讀值）低端分辨率 0.05μm 0.1μm 1μm 最小曲率半徑（凸） 1.0mm 1.5mm 5mm 最小曲率半徑（凹，外置探頭） 7.5mm 10mm 25mm 最小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭） 30mm 30mm 30mm 最小測(cè)量面積 Φ5mm Φ10mm Φ25mm 最小基體厚度 0.3mm 40μm 0.5mm 0.5mm 40μm 1mm 連續(xù)模式下測(cè)量速度每秒20個(gè)讀數(shù) 單值模式下最大測(cè)量速度每分鐘70個(gè)讀數(shù)

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張念念

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