2025年09月23日 星期二
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X射線衍射儀：看磁顆粒結(jié)晶狀態(tài)，計(jì)算磁性顆粒平均晶粒度，可以對(duì)比Fe3O4標(biāo)準(zhǔn)譜，確定制備顆粒是否有
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X射線衍射儀：看磁顆粒結(jié)晶狀態(tài)，計(jì)算磁性顆粒平均晶粒度，可以對(duì)比Fe3O4標(biāo)準(zhǔn)譜，確定制備顆粒是否有
瀏覽：246 解答：1發(fā)布人：詹
- 咨詢方式：文本
- 問題類別：詢盤
- 發(fā)布時(shí)間：2020-04-16 13:42:39
111積分
問題描述:
X射線衍射儀：看磁顆粒結(jié)晶狀態(tài)，計(jì)算磁性顆粒平均晶粒度，可以對(duì)比Fe3O4標(biāo)準(zhǔn)譜，確定制備顆粒是否有雜質(zhì) 透射電子顯微鏡：觀察顆粒狀態(tài)和測(cè)量粒徑 掃描電子顯微鏡：觀察顆粒狀態(tài)和測(cè)量粒徑
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