原子吸收光譜儀測量體系的受控分析
http://sukeda.cn 來源：杭州瑞析科技有限公司 時間：2015-01-28
通過采用繞計質(zhì)量保證(sQA，Statlstlea]QuaHty Assur丑nce)技術(shù)，對原子吸收光譜儀(AAS)測量體系的性能進行了線性假設(shè)的受控分析。研究結(jié)果表明，該程序的應(yīng)用能保證光譜儀耐量體系始終處于統(tǒng)計受控狀態(tài)，確保鐲I試條件下數(shù)據(jù)結(jié)果的有效性，有利于分析閶}試試驗室質(zhì)量保證話動的開展。
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