離子污染測(cè)試儀，別名：離子污染度測(cè)試儀 污染度測(cè)試儀 線路板污染度測(cè)量?jī)x 或錯(cuò)寫為：粒子污染測(cè)試儀

美國(guó)OMEGA 離子污染測(cè)試儀600 SMD
系統(tǒng)說明：
顯示提示------屏幕清楚的顯示操作者輸入的操作命令，并且提供繼續(xù)操作的提示給測(cè)試者，以做出不同的條件設(shè)定與修改。
系統(tǒng)打印機(jī)---------在測(cè)試進(jìn)行中，點(diǎn)陣打印機(jī)就會(huì)繪制一份污染物曲線圖表，并且每十秒鐘數(shù)據(jù)點(diǎn)會(huì)標(biāo)識(shí)一次。檢測(cè)結(jié)束后，最終污染水平、測(cè)試的參數(shù)以及所測(cè)樣品是否合格的情況都會(huì)打印出來。
穩(wěn)定的數(shù)據(jù)庫---------可以存儲(chǔ)30 個(gè)樣品的數(shù)據(jù)，包括樣品代碼、客戶代碼和樣品面積的大小。系統(tǒng)會(huì)保存最近輸入的測(cè)試液的濃度。
加熱測(cè)試液----------加熱測(cè)試液是操作SMD600離子污染測(cè)試儀的重要因素，當(dāng)提高測(cè)試液溫度至110°-----125°F 時(shí)就可以提高液體內(nèi)離子的擴(kuò)散速度。不銹鋼蓄水箱裝有發(fā)熱管及溫控器，當(dāng)水溫超過130°F 時(shí)就會(huì)發(fā)出警告并停止加溫。系統(tǒng)預(yù)熱需要
大約45 分鐘，操作的溫度應(yīng)保持在110°F-------125°F，這主要是根據(jù)測(cè)試槽的大小以及設(shè)備所處環(huán)境的溫度來調(diào)節(jié)。
電子校驗(yàn)--------無需電子校準(zhǔn)，可用電阻測(cè)量電路驗(yàn)證精度；如果系統(tǒng)不能正常的工作，那么系統(tǒng)就會(huì)停止工作并且在顯示器上出現(xiàn)相應(yīng)的提示。
化學(xué)校驗(yàn)--------這個(gè)程序適合所有系統(tǒng)部件的操作確認(rèn)，從測(cè)量探頭至系統(tǒng)打印機(jī)。
自動(dòng)停止--------操作者對(duì)測(cè)試循環(huán)的時(shí)間可作設(shè)定。如果未設(shè)定，那么系統(tǒng)在離子污染水平穩(wěn)定并且四分鐘保持不變就會(huì)自動(dòng)停止。
RS-232-C 數(shù)據(jù)輸出端口---------儀器背面的IBM 兼容串口用來傳輸測(cè)試數(shù)據(jù)；軟盤提供了電腦和儀器設(shè)備的驅(qū)動(dòng)軟件；只有當(dāng)系統(tǒng)未進(jìn)行交互時(shí)，數(shù)據(jù)輸出才可正常完成。
測(cè)試槽--------根據(jù)樣品的表面大小、比例來選擇最佳的測(cè)試液量，可選擇四種不同大小的測(cè)試槽（8″×8″，12″×12″，12″×18″，18″×18″）。理想的操作比例為35cc/sq.inch，高達(dá)100 cc/sq.inch 也可獲得很精確的結(jié)果。所有的測(cè)試槽都安裝有浸潤(rùn)式的噴水頭，以滲透至樣品的不同部位以及增加沖洗的速度。
液體量的指示器--------系統(tǒng)的測(cè)試槽標(biāo)有容積刻度，這樣就可以直接讀出系統(tǒng)液體量。
操作原理：
SMD600 離子污染測(cè)試儀
先進(jìn)的儀器
特點(diǎn)：
● 微處理器控制
● 數(shù)據(jù)條顯示，操作簡(jiǎn)單方便
● 可存儲(chǔ)30 個(gè)樣品的數(shù)據(jù)
● 以曲線圖表的打印所有測(cè)試程序
● 自動(dòng)停止測(cè)試
● 加熱測(cè)試液以增加離子溶解度
SMD600 離子污染測(cè)試儀通過監(jiān)控混合液中所含離子的電阻大小從而得出所所含離子的數(shù)量。在測(cè)試的開始時(shí)，系統(tǒng)的檢測(cè)器和記錄器會(huì)根據(jù)測(cè)試槽內(nèi)最初的離子含量建立一個(gè)基準(zhǔn)數(shù)據(jù)，然后計(jì)算在測(cè)試的過程中增加的離子量，當(dāng)所有的離子溶解入測(cè)試液中時(shí)，就可達(dá)到一個(gè)平衡的數(shù)值。在測(cè)試通孔的板時(shí)，這些操作大約需要5-10 分鐘，測(cè)試SMD的板時(shí)，大約需要30-45 分鐘。測(cè)試結(jié)素后，最后的離子含量水平，會(huì)被編成一份微觀圖，包括NaCl/sq.inch 、測(cè)試的參數(shù)以及根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)是否合格情況，在進(jìn)行下一次測(cè)試之前，通過儀器內(nèi)的除離子系統(tǒng)清潔測(cè)試液，從而達(dá)到再生的功能，并且建立新的基準(zhǔn)水平。
● 測(cè)試槽中的噴嘴增加滲透性
● 快速測(cè)試（3～5 次/分鐘）
● 測(cè)試槽的大小可選擇
● RS-232-C 的電腦輸出端口
● 英制/公制的轉(zhuǎn)換
SMD600 離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器，采用非破壞式的測(cè)試方法，適合用于檢測(cè)印制線路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來測(cè)試離子的含量。利用加熱測(cè)試液至大約120°F 并且結(jié)合了噴水器的沖刷，從而更有效的提高了清潔度，對(duì)于高密度的SMD 產(chǎn)品可以達(dá)到90%--95%的清潔度。
應(yīng)用：
美國(guó)OMEGA離子污染測(cè)試儀SMD 600 作為一款高效率、高質(zhì)量的品質(zhì)檢測(cè)工具，在商業(yè)上得到了廣泛的應(yīng)用。在軍事應(yīng)用上，OMEGA 設(shè)備系統(tǒng)所提供了一個(gè)高精度、可重復(fù)性＆快速測(cè)量的方法，用來測(cè)定軍用規(guī)范MIL-P-28809 的清潔標(biāo)準(zhǔn)。
美國(guó)OMEGA 離子污染測(cè)試儀SMD 600 還可應(yīng)用于：
● 測(cè)定軍用規(guī)范MIL-P-55110——印刷電路裝配
● 測(cè)定電子元件的質(zhì)量＆印刷電路板來料檢查
● 評(píng)估各種不同焊料、發(fā)展數(shù)據(jù)庫得出可行而有效的清潔方法
● 評(píng)估各種去焊藥劑或皂化劑的清潔處理性能
● 檢查在涂層＆填充混合物的應(yīng)用之前的最后表面清潔處理
物理數(shù)據(jù)：
系統(tǒng)尺寸：
38″wide×29″deep×54″high
電源要求：
230 V，60 Hz，10 A
運(yùn)輸尺寸：
44″wide×33″deep×76″high
運(yùn)輸總量：
600 Pounds

SMD600離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器，采用非破壞式的測(cè)試方法，適合用于檢測(cè)印制線路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來測(cè)試離子的含量。利用加熱測(cè)試液至大約120°F并且結(jié)合了噴水器的沖刷，從而更有效的提高了清潔度，對(duì)于高密度的SMD產(chǎn)品可以達(dá)到90%---95%的清潔度。

另外還有此款例子污染測(cè)試儀的易損件及消耗品可供選購：

600SMD_cth.pdf

600SMD_eng.pdf