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硅材料碳氧測試儀HS-OCT-2000

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品　　牌：

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出廠價：
1 元/套

主要規(guī)格：
套

用　　途：
硅片氧碳含量分析

產(chǎn)品特點： 1）適合于硅材料的氧、碳含量的測定； 2）可實現(xiàn)硅料中氧碳含量自動、快速、準確的測量； 3）具備完整的譜圖采集、光譜轉(zhuǎn)換、光譜處理、光譜分析及輸出功能，使得操作更簡單、方便、靈活。 4）全密封防潮、防塵干涉儀的設(shè)計使儀器對環(huán)境的適應能力更強。 5）外置式紅外光源部件的設(shè)計使得儀器具有更高的熱學穩(wěn)定性，無須動態(tài)調(diào)整就具有穩(wěn)定的干涉度。 6）高強度紅外光源采用球形反射裝置，可獲得均勻、穩(wěn)定的紅外輻射。 7）程控增益放大電路、高精度A/D轉(zhuǎn)換電路的設(shè)計及嵌入式微機的應用，提高了儀器的精度及可靠性； 8）光譜儀與計算機間通過USB方式進行控制和數(shù)據(jù)通訊，完全實現(xiàn)即插即用。 9）通用微機系統(tǒng)，全中文應用軟件界面友好、內(nèi)容豐富。 10）專用樣品固定架； 11）高穩(wěn)定性和抗震性； 12）保質(zhì)期：12個月。技術(shù)參數(shù)： 1）檢測下限：1.0X1016cm-3(常溫)； 2）檢測硅料硅片厚度范圍為：0.1~3.5mm； 3)波數(shù)范圍：7800cm-1~400cm-1 4）分辨率：優(yōu)于0.5 cm-1 5)波數(shù)精度：±0.01 cm-1 (1) CZ-Si(直拉硅)中氧含量精密度為±10%。 (2) FZ-Si（區(qū)熔硅）中氧含量精密度為±20%，檢測下限為1×1016 cm-3 。符合“硅晶體中間隙氧含量的紅外吸收測量方法”國家標準(GB/T 1557-89)的要求。 6)掃描速度：0.2~2.5 cm/s，微機控制，選擇不同的掃描速度，檔次連續(xù)可調(diào)。 7) 信噪比：優(yōu)于15，000：1（RMS值，在2100 cm-1 處，4 cm-1分辨率，DTGS探測器，1分鐘數(shù)據(jù)采集。） 8) 分數(shù)器：KBr基片鍍鍺 9) 探測器：標準配置DTGS，任選MCT 10)光源：高強度空氣冷卻紅外光源數(shù)據(jù)系統(tǒng)： 1) 通用微機，連接噴墨或激光打印機，可輸出高質(zhì)量的光譜圖。 2) 軟件：全新中文MainFTOS軟件：Windows9X/2000/XP操作系統(tǒng)下的通用操作軟件系統(tǒng)。包括譜庫檢索軟件、定量分析軟件、譜圖輸出軟件及專用紅外譜庫。儀器尺寸： 1) 光學臺： 63*52*24cm 電源： 1)交流：220V/50HZ 2)功率：1000VA 主要客戶: 錦州陽光能源、江蘇天源、峨眉739、河北晶龍集團、無錫尚德、天津環(huán)歐等詳情歡迎來電咨詢：北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司北京市通州區(qū)工業(yè)開發(fā)區(qū)光華路16號電話：010-60546837 -104 傳真：01060546837-608 聯(lián)系人：肖經(jīng)理18610357221 QQ：454972757 E-mail：xiaozongyong@henergysolar.com 董工：13581954918 E-mail：dongpeiming@henergysolar.com 公司網(wǎng)站：http://www.HenergySolar.com

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